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IEC/TR3 61000-3-7-1996 电磁兼容性(EMC)第3部分:限值第7节:中高压电力系统中波动负载发射限值的评估基础EMC出版物

作者:标准资料网 时间:2024-05-26 11:03:50  浏览:9700   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Electromagneticcompatibility(EMC)-Part3:Limits-Section7:AssessmentofemissionlimitsforfluctuatingloadsinMVandHVpowersystems-BasicEMCpublication
【原文标准名称】:电磁兼容性(EMC)第3部分:限值第7节:中高压电力系统中波动负载发射限值的评估基础EMC出版物
【标准号】:IEC/TR361000-3-7-1996
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1996-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC77A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:闪光;电压波动;低压电源;供电系统;电磁兼容性;电磁兼容性;电气工程
【英文主题词】:Electricalengineering;Electromagneticcompatibility;EMC;Flicker;Lowvoltagemains;Powersupplysystem;Voltagefluctuations
【摘要】:Thistechnicalreportoutlinesprincipleswhichareintendedtobeusedasthebasisfordeterminingtherequirementsforconnectinglargefluctuatingloads(producingflicker)topublicpowersystems.Theprimaryobjectiveistoprovideguidanceforengineeringpracticeswhichwillensureadequateservicequalityforallconnectedconsumers.Sincetheguidelinesoutlinedinthisreportarenecessarilybasedoncertainsimplifyingassumptions,thereisnoguaranteethatthisapproachwillalwaysprovidetheoptimumsolutionforallflickerproblems.Therecommendedapproachshouldbeusedwithflexibilityandjudgmentasfarasengineeringisconcerned,whenapplyingthegivenassessmentproceduresinfullorinpart.Thefinaldecisionregardingtheconnectionoffluctuatinginstallationswillalwaysrestwiththeutility.Problemsrelatedtovoltagefluctuationsfallintotwobasiccategories:-flickereffectfromlightsources;-riskofthevoltagemagnitudebeingoutsideacceptedtolerances.Thisreportprimarilyfocusesoncontrollingorlimitingflicker,butaclauseisincludedtoaddressvoltagemagnitudechangesandtheireffects.NOTES1Thisreportusesthefollowingtermsforsystemvoltage:-lowvoltage(LV)referstoUN<1kV;-mediumvoltage(MV)refersto1kV【中国标准分类号】:L06
【国际标准分类号】:33_100_01
【页数】:81P.;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:硅片弯曲度测试方法
英文名称:Test methods for bow of silicon wafers
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 6619-1995
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1985-06-17
作废日期:
主管部门: 国家标准化管理委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:洛阳单晶硅有限责任公司
起草人:刘玉芹、蒋建国、冯校亮、张静雯
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20065632-T-469
书号:155066·139560
适用范围

本标准规定了硅单晶切割片?研磨片?抛光片(以下简称硅片)弯曲度的接触式测量方法?
本标准适用于测量直径不小于25mm,厚度为不小于180μm,直径和厚度比值不大于250的圆形硅片的弯曲度?本测试方法的目的是用于来料验收和过程控制?本标准也适用于测量其他半导体圆片
弯曲度?

前言

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目录

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引用标准

GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(GB/T2828.1-2003,ISO28591:1999,IDT)
GB/T14264 半导体材料术语

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
【英文标准名称】:SoundMeasurement-ConstructionSite
【原文标准名称】:施工现场的噪声的测量
【标准号】:ANSI/SAEJ1075-1993
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1993-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:constructionnoise;noisemeasurements;automotiveengineering
【摘要】:ThisSAEStandardsetsforthmeasurementproceduresandinstrumentationtobeusedfordeterminingarepresentativesoundlevelduringarepresentativetimeperiodatselectedmeasurementlocationsonaconstructionsiteboundary.Thedocumentisnotintendedforuseindeterminingoccupationalhearingdamagerisk.Determinationofarepresentativetimeperiodislefttothejudgementoftheuser.
【中国标准分类号】:Z32
【国际标准分类号】:91_200;17_140_20
【页数】:
【正文语种】:英语



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